TAT-01
TFT Array Testing Station
1.8inchから17inchまでのTFT Array、試験回路基板への
Probing・Test・測定に！
TAT-01は、a-si LCDのTFT Array 試作品TEST用の研究用途のProbe Stationです。ソース側の任意のPadにProbingを行ない、お手持ちの信号発生器からのドライブ信号やDC電源を印加する事が出来、さらにArray基板上の任意測定PointへのProbingも行い、測定したい部位の波形をお手持ちのオシロスコープにて確認する事が出来ます。
1.8inchから17inchまで幅広いArrayサイズに対応します。
信号印加およびCommon用のProbeはガラスの端面から50mm奥のPADまで当てる事が出来ます。
信号印加用ProbeとCommon用のプローブはお互いに付け替える事が可能です。
オシロスコープ用のProbeはArray上のどの部位にも当てる事が可能です。
付属の顕微鏡は15倍～90倍のズーム式です、セルパネルのモデル変更にも対応できます。
顕微鏡は傾ける事が出来ますので、Probe Pinの確認が行ないやすくなっています。
オシロスコープのプローブをそのまま接続する事が出来て簡単です。
エアー配管などが無いフロアーでの使用が可能です。
ステージはマグネットを使用したPanell固定方法ですから、取り扱いが簡単でフレキシブルです。
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