電子機器

半導体DC検査装置 OSC-801

【ソフトウェア画面例】

確実・スピーディなDC検査で品質保証をサポート

OSC-801は、半導体の不良を迅速に発見し、製造現場の品質保証を強力にサポートします。

■ 検査ミスゼロ → 不良流出を防止
■ 省人化に貢献 → 自動検査で効率アップ

主な特徴

■高速検査:1ms~500ms/ピン
■自動検査:LAN経由での外部制御

導入事例

電子機器・電子部品メーカー:品質検査のため良品・不良品の確認

基本仕様

定格電圧 AC 100V〜240V
消費電力 50VA以下(AC100V時)
外形寸法 155mm(W)×136mm(D)×165mm(H)
重量 2.0kg以下
測定部
測定チャンネル数 100チャンネル(オプションにより最大250チャンネル)
定電圧回路
出力部 電圧範囲 ±1V / ±10V
設定誤差 フルスケールの±0.15% + 設定値の±0.15%
電流測定部 電流範囲 ±1uA / ±10uA / ±100uA / ±1mA / ±10mA
測定誤差 フルスケールの±0.3% + 設定値の±0.3%
フルスケールの±0.6% + 設定値の±0.6%(±1uAの場合)
定電流回路
出力部 電流範囲 ±1uA / ±10uA / ±100uA / ±1mA / ±10mA
設定誤差 フルスケールの±0.3% + 設定値の±0.3%
フルスケールの±0.6% + 設定値の±0.6%(±1uAの場合)
電圧測定部 電圧範囲 ±1V / ±10V
測定誤差 フルスケールの±0.15% + 設定値の±0.15%
1ピンあたりの測定時間 1ms 〜 500ms、1ms単位で設定