半導体検査

半導体検査

半導体の不良を迅速に発見し、製造現場の品質保証を強力にサポートする検査装置です。
DC検査、最大±10kVの高電圧を印加するリーク電流測定（耐圧検査）、デバイスの応答時間の測定まで、デバイスの特性に合わせた最適な検査環境を実現します。
ハード／ソフトウェアの開発から専用治具の製作まで、お客様の検査内容に合わせたカスタム設計も可能です。